纳芯微介绍隔离采样产品路线与选型
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纳芯微介绍隔离采样产品路线与选型
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AI 综述
纳芯微隔离采样AE manager刘雅竹接受电子工程世界采访时，介绍了公司隔离采样产品从第一代NSI13xx系列到NSI16xx、NSI22C1x、NSI36xx系列的演进路线，并对比了隔离运放与隔离Σ-Δ ADC在精度、延时和接口上的差异。 据该报道，NSI1611D02与NSI1311引脚兼容（Pin-to-Pin），便于已有设计直接替换；NSI1611在30MHz～6GHz频段通过CISPR 25 Class 5相关测试；在10%～100% FSR范围内，采样精度可达1.2%以内且无需软件校准。刘雅竹称，一般应用下150kV/μs的CMTI已能覆盖相当多场景。 报道还提到，Shunt、霍尔与TMR三种电流检测方案各有适用场景，纳芯微提供精度计算工具和应用笔记，用于全温度范围系统误差评估与选型。上述参数与测试结论均来自纳芯微方面的介绍。
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最新进展10月23日 08:00
纳芯微刘雅竹谈隔离采样：从NSI13xx到NSI16xx的产品演进与选型逻辑报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月23日
- 电子工程世界精选纳芯微刘雅竹谈隔离采样：从NSI13xx到NSI16xx的产品演进与选型逻辑
电子工程世界采访纳芯微隔离采样AE manager刘雅竹，梳理其隔离采样产品从第一代NSI13xx系列到NSI16xx、NSI22C1x、NSI36xx系列的演进路线。文章对比隔离运放与隔离Σ-Δ ADC在精度、延时和接口上的差异，并说明Shunt、霍尔与TMR三种电流检测方案各有适用场景。纳芯微还提供精度计算工具和应用笔记，用于全温度范围系统误差评估与选型。
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