纳芯微刘雅竹谈隔离采样：从NSI13xx到NSI16xx的产品演进与选型逻辑

电子工程世界采访纳芯微隔离采样AE manager刘雅竹，梳理其隔离采样产品从第一代NSI13xx系列到NSI16xx、NSI22C1x、NSI36xx系列的演进路线。文章对比隔离运放与隔离Σ-Δ ADC在精度、延时和接口上的差异，并说明Shunt、霍尔与TMR三种电流检测方案各有适用场景。纳芯微还提供精度计算工具和应用笔记，用于全温度范围系统误差评估与选型。