东南大学与CorEnergy提出GaN二极管与HEMT单片集成方案
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东南大学与CorEnergy提出GaN二极管与HEMT单片集成方案
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东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心与CorEnergy半导体公司提出一种AlGaN/GaN场效应肖特基势垒二极管(FESBD)与MIS-HEMT的单片集成方案:MIS-HEMT生长于FESBD层之上,第三象限反向导通时形成三条并联2-DEG沟道。 研究称,采用多沟道FESBD后,第三象限导通电压V R_F降至1.55 V,改善41%,该模式下导通电阻也相应降低;集成器件击穿电压提升至860 V。研究还称,加入FESBD不影响MIS-HEMT的正向特性,如阈值电压和导通电阻。 该研究采用的结构参数为D ch1 = 0.3 µm、d = 0,肖特基金属功函数为6.35 eV。
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最新进展10月12日 21:59
东南大学与CorEnergy提出AlGaN/GaN二极管与晶体管单片集成方案报道时间线
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10月12日
- Power Electronics News东南大学与CorEnergy提出AlGaN/GaN二极管与晶体管单片集成方案
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心与CorEnergy半导体公司提出一种AlGaN/GaN场效应肖特基势垒二极管(FESBD)与MIS-HEMT的单片集成方案,MIS-HEMT生长于FESBD层之上,第三象限反向导通时形成三条并联2-DEG沟道以降低导通电阻。
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