Power Electronics News· Aalyia Shaukat·· 2 小时前精选
QSPICE 课程第 20 期：用仿真观察 SiC MOSFET 的温度影响
Power Electronics Course with QSPICE (Episode 20): SiC MOSFETs and Temperature
AI 导读
Power Electronics News 的 QSPICE 课程第 20 期以 UF3C065030T3S 和 C2M0025120D 为例，演示如何用 SPICE 指令扫描温度并观察 SiC MOSFET 的 R DS(on) 与效率变化。
关注价值
以 UF3C065030T3S 与 C2M0025120D 为例，展示 QSPICE 温度扫描与热端子模型如何量化 R DS(on) 随温度上升带来的损耗变化。
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